C-SAM無(wú)損超聲掃描檢測(cè) 

概述：C-SAM檢測(cè)，C-SAM超聲掃描檢測(cè)報(bào)告，C-SAM無(wú)損超聲掃描檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，
本信息已過(guò)期，發(fā)布者可在"已發(fā)商機(jī)"里點(diǎn)擊"重發(fā)"。

刷新時(shí)間：
2022-05-06 22:12:02 點(diǎn)擊41321次
聯(lián)系電話：
0755-86114796 馮小華
QQ：
1451056526
信用：4.0  隱性收費(fèi)：4.0
描述：4.0  產(chǎn)品質(zhì)量：4.0
物流：4.0  服務(wù)態(tài)度：4.0
默認(rèn)4分 我要打分

C-SAM檢測(cè)，C-SAM超聲掃描檢測(cè)報(bào)告，C-SAM無(wú)損超聲掃描檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室，

C-SAM檢測(cè)主要使用于封裝內(nèi)部結(jié)構(gòu)的分析,因?yàn)樗芴峁㊣C封裝因水氣或熱能所造成破壞分析,例如裂縫、空洞和脫層；C-SAM內(nèi)部造影原理為電能經(jīng)由聚焦轉(zhuǎn)換鏡產(chǎn)生超聲波觸擊在待測(cè)物品上,將聲波在不同接口上反射或穿透訊號(hào)接收后影像處理,再以影像及訊號(hào)加以分析.其主要是針對(duì)半導(dǎo)體器件 ,芯片,材料內(nèi)部的失效分析．其可以檢查到:1.材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu),雜質(zhì)顆粒．夾雜物．沉淀物．2. 內(nèi)部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等.

深圳市一通檢測(cè)技術(shù)有限公司（簡(jiǎn)稱TTS）是從事工業(yè)與消費(fèi)產(chǎn)品測(cè)試、檢驗(yàn)與驗(yàn)證并具有第三方公正地位的專業(yè)檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)。實(shí)驗(yàn)室資質(zhì)介紹 實(shí)驗(yàn)室已取得中國(guó)合格評(píng)定國(guó)家認(rèn)可委員會(huì)實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書(shū)（CNAS），國(guó)家計(jì)量資質(zhì)認(rèn)定證書(shū)（CMA）和國(guó)際運(yùn)輸安全協(xié)會(huì)認(rèn)證(ISTA)，實(shí)驗(yàn)室依照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO/IEC17025：2005《檢測(cè)和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求》管理和運(yùn)行，具備向社會(huì)出具公正性檢測(cè)報(bào)告的資格。

[本信息來(lái)自于今日推薦網(wǎng)]