TSS-5X-3紅外線發(fā)射率測試儀 

概述：北京華瑞森科技GR200熱釋光探測器（熱釋光劑量片） GR200熱釋光探測器（熱釋光劑量片）：探測對象：X、γ射線  ◆ 成分：LiF（Mg，Cu，P） ◆ 形狀：圓片（另有方片、粉末可選） ◆
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日本TSS-5X-3紅外線發(fā)射率測試儀，TSS-5X遠紅外線放射率測試器

 

北京華瑞森科技發(fā)展有限公司中國區(qū)域總代理：日本TSS-5X-3紅外線發(fā)射率測試儀也稱為TSS-5X紅外線放射率測試器，遠紅外測試儀，本測量器可以用非常簡單且高精度的方式,測量在常溫中的各種材料的表面發(fā)射率。

TSS-5X-3遠紅外線發(fā)射率測試儀，TSS-5X-3遠紅外線放射率測試器，遠紅外測試儀早已經(jīng)由材料科研單位、半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)等的單位采用。 廣泛用于紅外材料測量。

 

日本TSS-5X-3遠紅外線發(fā)射率測試儀應(yīng)用：

 

1、在機器的熱設(shè)計中必須使用的零件的發(fā)射率測量；

2、藉由放射溫度計的測量物體來補正放射率；

3、各種零件的加工／處理前后的發(fā)射率比較；

4、其他、從零件的放射率求取物體本身的發(fā)射率等；

5、材料科學(xué)院、實驗領(lǐng)域必須的檢測分析設(shè)備。

 

日本TSS-5X-3遠紅外線發(fā)射率測試儀產(chǎn)品構(gòu)成：

１．紅外線照射源

藉由在一定溫度中加熱后的半球面黒體爐，在材料中集中照射。

２．紅外線檢驗素子

從材料反射出的能量的一部分，射進半球面黒體爐的頂點的小孔，用一定比率做檢驗。

注：比率是依據(jù)光學(xué)系的構(gòu)造來決定。

３．發(fā)射率演算回路

從反射能量檢驗器的輸出，演算試料的發(fā)射率。

注：材料的反射率和發(fā)射率的關(guān)系式如下：r εε＝１－r

４．放射率表示値的校正

用發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)片（ε＝０．０６與０．９４）做校準(zhǔn).

測量原理：利用恒溫放射的遠紅外線發(fā)射源，將能量照射后計算所反射的能量。

測量波長：2-22μｍ

測量范圍：0.00-1.00

額定精度：±0.01

測量面積：Φ15mm

測量距離：12mm（固定探頭的腳柱部）

被測物溫：10-40℃（室溫）

輸　　出：0-0.1V，0-1V（滿載）

使用溫度：10-45℃

使用濕度：35-85%RH（未結(jié)露、霜之狀態(tài)）

使用電源：AC100V ±10%，50/60Hz

外型尺寸：探頭Φ51X137mm（0.5Kg）    

主機：H170X W306ｘD230mm（5Kg）

配件：發(fā)射率標(biāo)準(zhǔn)片0.94、0.06各一片。

 

代理商：

北京華瑞森科技發(fā)展有限公司

Beijing Huaruison Technology Development Co.Ltd.,

北京華睿志達科技發(fā)展有限公司

Beijing Huaruizhida Technology Development Co.Ltd.,

TSS-5X-3紅外線發(fā)射率測試儀
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