回收Tektronix泰克 DSA8300 數(shù)字采樣示波器 

回收Tektronix泰克 DSA8300 數(shù)字采樣示波器

• ///超低時(shí)基抖動：

• 在同時(shí)采集的zui多 8 條通道上，典型值為 425 fs
• 使用 82A04B 相位參考模塊時(shí)，在zui多 6 條通道上 <100 fs

• ///zui佳的垂直分辨率 – 16 位模數(shù)轉(zhuǎn)換器
• ///電接口分辨率： <20 μV LSB（適用于 1 V 全量程）
• ///光接口分辨率從 80C07B（1 mW 全量程）的 <20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 μW
• >80 GHz 的光接口帶寬
• ///電接口帶寬 >70 GHz
• ///為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了超過 120 種自動測量功能
• 80 多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模板，自動進(jìn)行模板測試

• ///通過當(dāng)前采樣模塊系列，DSA8300 支持同時(shí)采集zui多 8 個(gè)信號
• ///多種光接口、電接口和附件模塊，滿足您的特定測試要求
• ///光接口模塊

• 全面集成光接口模塊，支持 155 Mb/s 至 100 Gb/s 的所有標(biāo)準(zhǔn)光接口數(shù)據(jù)速率
• 經(jīng)過認(rèn)證的光接口參考接收機(jī)，支持標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定必須進(jìn)行的一致性測試指定的要求
• >80 GHz 的光接口帶寬
• 光接口采樣模塊提供了高光學(xué)靈敏度、低噪聲及寬動態(tài)范圍，可以準(zhǔn)確地測試和檢定短程到遠(yuǎn)程光接口通信標(biāo)準(zhǔn)
• 經(jīng)過全面校準(zhǔn)的時(shí)鐘恢復(fù)解決方案 – 不需要手動校準(zhǔn)數(shù)據(jù)撿拾損耗
• 經(jīng)過校準(zhǔn)的消光比測量，在采用這一出廠校準(zhǔn)選項(xiàng)模塊時(shí)，系統(tǒng)間消光比測量可靠性 <0.5 dB

• 電接口模塊

• 超低噪聲電接口采樣器（20 Ghz 時(shí)為 280 μV，60 Ghz 時(shí)為 450 μV，典型值）
• 可以選擇帶寬1允許用戶用采樣器帶寬和噪聲換取zui優(yōu)的數(shù)據(jù)采集性能
• 遠(yuǎn)程采樣器2或緊湊的采樣擴(kuò)展模塊電纜，采樣器可以放在被測器件附近，使信號劣化達(dá)到zui小
• 世界上性能zui高的集成 TDR（10 ps 典型階躍上升時(shí)間），高效檢定阻抗不連續(xù)點(diǎn)，高動態(tài)范圍，執(zhí)行高達(dá) 50 Ghz 的 S 參數(shù)測量

• 分析

• 為 NRZ、RZ 和脈沖信號類型提供了一套完整的超過 120 種自動測量功能
• 80 多種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)模板，自動進(jìn)行模板測試。 新模板可以導(dǎo)入到 DSA8300 中，支持新出現(xiàn)的標(biāo)準(zhǔn)。 此外，用戶可以為自動模板測試定義自己的模板
• 垂直直方圖和水平直方圖，對波形進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析
• 垂直光標(biāo)、水平光標(biāo)和波形光標(biāo)(帶測量數(shù)據(jù))
• 通過 80SJNB 基本和高級應(yīng)用軟件選項(xiàng)提供抖動、噪聲、BER 和串行數(shù)據(jù)鏈路分析
• 通過 IConnect® 應(yīng)用軟件選項(xiàng)提供高級 TDR 分析、S 參數(shù)測量、仿真模型提取和串行鏈路仿真功能

• 高測試吞吐量

• 每條通道高達(dá) 300 kS/s 的采樣采集速率
• 高效編程接口（IEEE-488、以太網(wǎng)或本地處理器接入）實(shí)現(xiàn)高測試吞吐量