測量
所有分類下結(jié)果激光橢偏儀針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量
[中介]多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有極高的精確度和準(zhǔn)確度。
硅材料綜合測試儀
[中介]硅料綜合測試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置，它可以測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時檢
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平
光譜橢偏儀全自動
[中介]全自動光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測量的可重復(fù)性和精確性。已獲得專利的自動樣品對準(zhǔn)裝置能夠顯著減少操作失誤；能夠工作于
自動光譜橢偏儀
[中介]光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應(yīng)用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機(jī)基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對太陽能電池應(yīng)用的光譜
原生多晶及硅芯型號測試儀
[中介]HS-PSTT原生多晶及硅芯型號測試儀是一款高端半導(dǎo)體材料型號測試儀器，具有大量程測試范圍的特點(diǎn)，尤其適用于西門子法原生硅料生產(chǎn)企業(yè)的高阻硅料（含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等）以及各種低阻硅料型號測量，型
半自動硅片厚度TTV測試儀
[中介]特征
■適用于硅片等各種材料的厚度TTV精確測量
■測量范圍：0～2mm
■分辨率：0.1μm
■微電腦控制、液晶顯示
■菜單式界面、PVC面板操作
■接觸式測量
■測頭自動升降
■手動、自動雙重測量模式
四探針電阻率方阻測試儀
[中介]本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計。 它主要由電器測量部份（主機(jī)）及
硅材料碳氧測試儀
[中介]1）適合于硅材料的氧、碳含量的測定；
2）可實現(xiàn)硅料中氧碳含量自動、快速、準(zhǔn)確的測量；
3）具備完整的譜圖采集、光譜轉(zhuǎn)換、光譜處理、光譜分析及輸出功能，使得操作更簡單、方便、靈活。
4）全
PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)
[中介]產(chǎn)品介紹:
Helios-PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)能夠?qū)Χ喾N太陽能電池少子壽命進(jìn)行快速二維分析，能夠準(zhǔn)確的測量和計算出電池的缺陷分布及密度，同時準(zhǔn)確反饋結(jié)果以很好的改進(jìn)電池的生產(chǎn)工藝。
[北京 儀器儀表]
