測(cè)量
所有分類下結(jié)果無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)
[中介]PV-1000系列無接觸硅片厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)為太陽能/光伏硅片及其他材料提供快速、多通道的厚度、（總厚度變化）TTV、翹曲及無接觸電阻率測(cè)量功能。并提供基于TCP/IP的數(shù)據(jù)傳輸接口及基于Windows的控
藍(lán)寶石圓度測(cè)試儀
[中介]RA2000是一種操作簡便的測(cè)量儀，用于對(duì)工件的幾何尺寸特別是圓度進(jìn)行精確測(cè)量。此設(shè)備保證測(cè)量的準(zhǔn)確性，為產(chǎn)品品質(zhì)提供專業(yè)的保障。
硅片厚度測(cè)厚儀
[中介]硅片測(cè)厚儀(HS-WTT)
適用于量程范圍內(nèi)的硅片等各種材料的厚度精確測(cè)量。
特征
液晶顯示
接觸式測(cè)量
手動(dòng)測(cè)量模式
數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示
具有輸出接口，可選配適配器實(shí)現(xiàn)232接口功能
技術(shù)指標(biāo)
測(cè)
太陽能光伏電池IV特性分析系統(tǒng)
[中介]太陽能光伏電池的所有性能表征手段中，IV特性測(cè)試無疑是最直觀、最有效、最被廣泛應(yīng)用的一種方法。PH-SIV100通過測(cè)量IV特性曲線，對(duì)數(shù)據(jù)分析處理，可以直接得到光伏電池的各項(xiàng)物理性能。為光伏電池的研究、
無接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)
[中介]HS-T50無接觸厚度TTV電阻率綜合測(cè)試系統(tǒng)是一款廣泛應(yīng)用于太陽能電池片制造過程中對(duì)表面厚度TTV電阻率無損測(cè)量的專業(yè)儀器。該儀器適用于Si，GaAs，InP，Ge等幾乎所有的材料，所有的設(shè)計(jì)都符合ASTM(美國材料
單點(diǎn)少子壽命測(cè)試儀
[中介]HS-CLT少子壽命測(cè)試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測(cè)量。少子測(cè)試量程從1μs到2000
激光橢偏儀針對(duì)晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測(cè)量
[中介]多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對(duì)晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測(cè)量，能夠測(cè)量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有極高的精確度和準(zhǔn)確度。
硅材料綜合測(cè)試儀
[中介]硅料綜合測(cè)試儀HS-PSRT
本儀器是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，適用于半導(dǎo)體及太陽能行業(yè)的篩選。
硅料綜合測(cè)試儀 - 產(chǎn)品特點(diǎn)
■ 同時(shí)檢
無接觸少子壽命掃描儀
[中介]HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋�、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平
光譜橢偏儀全自動(dòng)
[中介]全自動(dòng)光譜橢偏儀(PH-ASE型)把使用者從煩瑣的手動(dòng)調(diào)節(jié)樣品高度和傾斜度工作中解放出來，樣品對(duì)準(zhǔn)是為了保證橢偏儀測(cè)量的可重復(fù)性和精確性。已獲得專利的自動(dòng)樣品對(duì)準(zhǔn)裝置能夠顯著減少操作失誤；能夠工作于
