少子壽命 選購(gòu)指南
單點(diǎn)少子壽命測(cè)試儀
產(chǎn)品介紹: HS-CLT少子壽命測(cè)試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測(cè)試儀，不僅適用于硅片少子壽命的測(cè)量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測(cè)量。少子測(cè)試量程從1μs到20000μs,硅料電阻率下限達(dá)0.1Ω.cm,(可擴(kuò)展至0.01Ω.cm)。測(cè)試過(guò)程全程動(dòng)態(tài)曲線監(jiān)控，少子壽命測(cè)量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況，是原生多晶硅料及半導(dǎo)體及太陽(yáng)能拉晶企業(yè)不可多得少子壽命測(cè)量?jī)x器。 產(chǎn)品特點(diǎn) ■......
美國(guó)sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測(cè)試儀
灣邊貿(mào)易供應(yīng)美國(guó)sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測(cè)試儀 美國(guó)sinton WCT-120 Suns-Voc少子壽命測(cè)試儀器采用了獨(dú)特的測(cè)量和分析技術(shù)，包括類似平穩(wěn)狀態(tài)photoconductance (QSSPC)測(cè)量方法�？伸`敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復(fù)合效應(yīng)等缺陷情況。WCT一個(gè)高度被看待的研究和過(guò)程工具。QSSPC終身測(cè)量也產(chǎn)生含蓄的打開(kāi)電路電壓(對(duì)照明)曲線，與I-V曲線是可比較的在一個(gè)太陽(yáng)能電池過(guò)程的每個(gè)階段。sinton WCT-120 WCT-120準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)光電導(dǎo)法測(cè)少子壽命的原理？ W......
