測(cè)試范圍 選購指南
直流I-V特性分析SMU源表
一、源表定義 “源表”又稱“數(shù)字源表”、“源測(cè)量單元”，是一種可編程控制，作電壓源或電流源提供精確的電壓或電流，并同步測(cè)量和IV掃描的通用儀表。 二、源表特點(diǎn)： 多功能：可作源和負(fù)載，又能測(cè)； 高效率：滿足多種測(cè)試需求； 可編程控制：高精度可調(diào)，靈活控制； IV掃描：快速、直觀顯示，一步操作。 三、應(yīng)用領(lǐng)域： 分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極......
PZV-2型兆歐表端電壓測(cè)試儀
PZV-2型兆歐表端電壓測(cè)試儀說明:1 概述 PZV－2型兆歐表端電壓測(cè)試儀（以下簡(jiǎn)稱為PZV－2）是用于檢測(cè)兆歐表端電壓的專用儀器。采用了四位半直讀顯示方式，自動(dòng)量程，具有測(cè)試范圍寬、性能穩(wěn)定、操作方便等特點(diǎn)，完全符合JJG622－1997絕緣電阻表（兆歐表）檢定規(guī)程的規(guī)定，可廣泛用于工礦企業(yè)、科研院所、軍工計(jì)量測(cè)試等部門。 2 技術(shù)指標(biāo) 2.1 使用環(huán)境條件見表1 表1 使用環(huán)境條件 影響量 標(biāo)準(zhǔn)值......
原生多晶大量程電阻率測(cè)試儀
產(chǎn)品介紹: HS‐POSRT原生多晶電阻率測(cè)試儀是一款高端電阻率測(cè)試儀器，具有電阻率大量程及超大量程測(cè)量的特點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬歐姆.厘米（可擴(kuò)展）的測(cè)試范圍，具有測(cè)量精度高、穩(wěn)定性好、測(cè)量范圍廣、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點(diǎn)。是西門子法、硅烷法等工藝生產(chǎn)原生多晶硅料的企業(yè)、物理提純生產(chǎn)多晶硅料生產(chǎn)企業(yè)、半導(dǎo)體材料廠、器件廠、科研部門、高等院校以及需要超大量程測(cè)試電阻率測(cè)試的企業(yè)的最佳幫手。 產(chǎn)品特點(diǎn)......
